Título: Perfil tecnológico da CSN: um estudo patentométricoAutor: Pauli Adriano de Almada GarciaAno: 2014Revista: RAI : Revista de Administração e InovaçãoISSN: 18092039Tags: Perfil TecnológicoCompanhia Siderúrgica NacionalPatentometriaHome: [http://www.revistarai.org/rai/article/view/1307]Idioma: Português