Renato Bastos Guimarães

Possui graduação em Fisica pela Universidade Federal do Rio de Janeiro ,Mestrado em Física pela Universidade Federal Fluminense e Doutorado em Física pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (1988). Atualmente é professor Associado Nível IV na Universidade Federal Fluminense. Tem experiência na área de Física, com ênfase em materiais magnéticos e cristalografia. Atualmente atua principalmente nos seguintes temas: sintese e caracterização estrutural e microestrutural de aluminatos e silicatos com terras raras e oxiboratos mistos com metais de transição utilizando essencialmente a técnica de difração de raios X em amostras policristalinas. Para a análise dos dados utilizo preferencialmente o Método de Rietveld e o modelamento utilizando métodos de Fourier empregados como fundamento do WPPM (Whole Powder Pattern Modelling). Este último vem sendo utilizado recentemente pela comunidade científica especializada nas análises de amostras policristalinas no estudo das quantidades físicas que podem ser observadas a partir dos perfis das linhas dos difratogramas, tais como defeitos presentes nas microestruturas cristalinas, forma e distribuição do tamanho dos cristalitos que formam o grão.